随着科技水平的提高，X光机成为了人们日常生活中随处可见的机器，X光机引起了人们浓厚的兴趣，人们很好奇这样一个机器是如何能够在那么短的时间内识别出图像的呢，下面小编就给大家详细介绍下以下关于“X光机的识别方法和X光机探测器的原理及性能特点”的介绍。
【X光机如何识别的方法】
用于模式识别的实际图像通常都有许多种特征，抽取有效的特征识别是一个非常重要的问题，这不仅影响到X光机识别的精度，也会直接影响识别的速度。原始图像中包含大量的信息，在大量信息中蕴含的就是众多的特征，选择的特征越多就可以越全面、越完整地描述某个目标。
但是特征过多会造成维数爆炸，使一个低维情况下易于分析计算的问题，在高维的情况下就变得完全不可能。因此选择图像的哪些特征，如何去度量这些特征的鉴别能力是决定能否成功完成识别的关键。
特征选择问题通常非常的复杂，若把区别不同类别的特征均从原始信息的分析中找到，需要处理大量数据，耗费大量的计算机，而某些重要特征往往在众多特征中显不出其相应的重要性来，不易于度量。
为了在实际的检测中更高效、快速分类、通常只需要保留对区分不同类别为重要的特征信息，舍去那些对分类并无多大贡献的特征信息，这就是X射线检测机特征筛选与压缩过程。对于产品的检测X光机会通过分析产品的位置、取向、尺寸、轮廓、灰度等特征进行识别，其中边缘和区域特征是常用的。
【X光机探测器的原理和性能特点】
作为工业X射线检测机核心部件的探测器，其对成像图像质量的影响很大。主要的性能包括效率、尺寸、线性度、稳定性、响应的时间、动态范围等。效率表征的是探测器在采集入射射线光子并将其转换成测量信号过程中的有效性，与探测器之间的间隔及吸收材料的种类等有关。
探测器的效率高，有利于缩短扫描的时间提高信噪比。X光机探测器的尺寸通常包括宽度和高度，宽度是影响空间分辨率的重要因素，宽度越小空间分辨率越高。高度决定了可切片的厚度，切片的厚度大则信噪比高，有利于提度分辨力，但会降低切片垂直方向上的空间分辨力。
线性度是探测器产生的信号在大的射线强度范围内与入射强度成正比的能力，稳定性是随着工作时间的增加，探测器仍能对信号产生一致响应的能力，线性度和稳定性直接影响数据的精度。
响应时间是指探测器从接收射线光子到获得稳定的探测信号所需要的时间，是影响独立采样的速率及数据质量的关键因素。动态范围是射线强度的范围，通常定义为输出信号与小输出信号的比率。
以上关于“X光机如何识别的方法”和“X光机探测器的原理和性能特点”的介绍，希望能让您了解“X光机的识别方法和X光机探测器的原理及性能特点”带来帮助。
